為促進國內「機器視覺」領域之學術與實務並重＆研發與創意應用，由田新技股份有限公司設置，
自動光學檢測設備聯盟(AOIEA)承辦之第一屆全國「由田機器視覺獎(UTMVP)」，正式開放報名，
歡迎產學研各界高手挑戰總獎80萬。詳情請即上網查詢。
競賽項目：【解題競賽組】外型瑕疵檢測 / 目標分類
【創 新 組】題目自訂
報名時間：即日起 ~ <?:namespace prefix = st1 ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:smarttags" />2006年7月10日下午六時止
繳件時間：2006年7月10日 ~ 8月30日下午六時止
決賽日期：2006年9月30日
參賽資格：◎可跨業(產、學、研)、跨校系所組隊報名參賽
◎每隊成員最少1人，最多10人
◎同1人之參賽項目、作品數量不限
競賽獎金：總獎金80萬；第一名獎金10萬
報名方式：競賽詳情請上網站查詢
聯絡專線：(03)574-3813、573-2225