安捷倫與Altair半導體攜手合作促使LTE裝置和測試設備盡快達到成熟

安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)與Altair半導體公司共同宣佈,雙方將使用Altair的4G LTE晶片組及安捷倫的PXT無線通訊測試儀和N6070A系列信令符合性測試軟體,來執行相互操作性測試與驗證測試。在兩家公司的共同努力下,將可加速LTE裝置和測試解決方案朝新的操作頻帶發展。

Altair的LTE晶片產品組合包含FourGee-3100基頻晶片組,及FourGee-6200 RFIC晶片組。FourGee-3100為3GPP LTE基頻處理器,支援LTE第3類所規定的速度(DL/UL分別為100Mbps/50Mbps)。該晶片實作一個20-MHz的MIMO接收器,並採用專屬、尖端的O2P軟體無線電處理器(software-defined radio processor)。該處理器所提供的效能,遠超過傳統的通訊DSP核心,但只消耗非常少量的電力。FourGee-6200是一款多頻帶的射頻收發器,支援700 MHz到2700 MHz之間的任何3GPP LTE頻帶。該晶片組支援LTE標準的FDD和TDD版本,連同Altair的軟體堆疊,已經與基礎建設設備的領導廠商所提供的產品,就多頻帶與雙工配置進行廣泛的相互操作性測試。

Altair半導體的共同創辦人暨行銷與業務開發副總裁Eran Eshed表示:「邀請在業界享有盛名的測試儀器廠商,如安捷倫,參與進行相互操作性測試,對Altair來說慎為重要。對先進的設計進行驗證與認證永遠是一大挑戰,這次的合作可確保晶片組技術和測試解決方案以更快的腳步共同前進,讓我們能夠更快且更有效率地將產品推出上市。」

台灣安捷倫科技董事長暨電子量測事業群總經理張志銘表示:「與Altair的合作,對於我們正在進行的以PXT來執行相互操作性測試,及利用安捷倫的符合性測試解決方案來執行驗證測試很有幫助。Altair的晶片組將被用來提升我們的LTE測試平台的效能,使我們的設計驗證與符合性測試能力,得以擴展到新的操作頻帶。」

隨著網路業者將LTE引進到新的頻譜配置(spectrum allocation),新的終端使用者裝置必須利用已經驗證過的測試平台,來進行每個頻帶、頻寬與雙工安排(FDD和TDD)的認證。除了相互操作性測試之外,Altair的晶片組還可以用來驗證在Agilent N6070A系列信令符合性測試解決方案上執行的3GPP測試案例。

有關Agilent E6621A PXT無線通訊測試儀的詳細資訊,請瀏覽www.agilent.com/find/PXT網站。有關Agilent N6070A系列信令符合性測試的更多資訊,請瀏覽www.agilent.com/find/N6070A網站。關於安捷倫LTE設計與測試產品組合的詳細資訊,請至www.agilent.com/find/LTE網站查詢。