第八屆大中華PXI TAC-- 摩爾定律引領自動化測試領域邁向新紀元

【台北訊 - May 18, 2011】由美商國家儀器 (National Instruments, NI) 所領軍主辦的第八屆大中華 PXI 技術與應用論壇於今日完美落幕。本屆 PXI TAC 活動除了與會人數再次創下新高之外,現場各家廠商多元的展出更讓本次活動看頭倍增。整場活動因為 NI 亞洲區業務副總裁 Victor Mieres 摩爾定律的引用,讓在場所有量測界的從業人員深感自動化測試領域的邁進又更向前跨了一大步。 「自1997年引入PXI以來,摩爾定律讓基於PXI的模組化設備造成了重大的影響。摩爾定律適用於軟體定義的模組化自動測試系統,客戶的量測儀器尺寸、整體價格和功耗減少等成果,均可達10倍以上。」 Victor Mieres 同時並指出:「基於 PXI 這個開放的工業平臺,結合來自摩爾定律的創新技術,所有 PXI 產品將得以成功地用於自動化測試產業。」

而自2009 便聽聞 NI 將和與測試、量測,與監控儀控的領導廠商 -- 太克科技 (Tektronix),合作開發高速示波器以來,市場上大家引頸企盼的業界最高頻寬 PXI 示波器--NI PXIe-5185 也於本次活動中首次亮相,此舉再次確立 NI PXI 快速擴充儀控效能的優勢。 「NI 很榮幸能與太克科技合作,將其核心的訊號擷取技術融入至 PXI 平台。」NI資深產品經理Rebecca Suemnicht 於會中表示,並呼應了 Victor Mieres 的說法提到:「新款示波器將進一步驗證摩爾定律 (Moore's Law) 對測試應用的影響,也透過 PXI 規格,以更小體積達到更高效能。」太克科技大中華區技術行銷經理張天生同時表示「太克科技與 NI 所合作的超高效能示波器,僅是我們持續保有領先與創新技術的另 1 個範例。身為業界領先者,我們將繼續提供解決方案,以滿足客戶的測試與量測需求。」 以客戶需求為最高考量,並協同業界領導廠商共同戮力研發相關產品,以提供客戶更完善的產品, NI 與太克做了最完美的示範。

而在應用部分,儀科中心透過 PXI 模組化平台與 LabVIEW 圖形化軟體,於會場中展示了PXI 光學透鏡模組偏心檢測裝置系統,此系統將可用於手機相機鏡頭模組組裝品質檢測、以及批次化自動光學鏡片製造偏心誤差檢測等。除此之外,還有固緯電子運用PXI 於交換式電源供應器生產驗證、台科大利用 PXI 開發生醫量測系統、宏相科技運用 PXI架構的數位麥克風聲音以及電性測試等重點應用,以及凌華和安捷倫等 PXI 產品應用,皆在 PXI TAC 會場展示,並引起眾多討論。

NI 在 PXI 領域的產品將持續與多家製造商做策略整合,以期研發出測試與量測市場中的關鍵產品。 相信透過摩爾定律的創新技術,PXI 將持續不斷推出新產品與技術,工程師將可因此開發高成本效益的測試系統,且能隨時靈活因應未來的應用需求。